Tokom proizvodnje ravnih panel displeja (FPD), provode se testovi za provjeru funkcionalnosti panela i testovi za procjenu proizvodnog procesa.
Testiranje tokom procesa niza
Kako bi se testirala funkcija panela u procesu rada s nizom elemenata, test niza elemenata se izvodi pomoću testera niza elemenata, sonde za niz elemenata i jedinice sonde. Ovaj test je dizajniran za testiranje funkcionalnosti TFT nizova elemenata formiranih za panele na staklenim podlogama i za otkrivanje bilo kakvih prekinutih žica ili kratkih spojeva.
Istovremeno, kako bi se testirao proces u nizu, provjerila uspješnost procesa i povratna informacija o prethodnom procesu, za TEG testiranje se koriste tester DC parametara, TEG sonda i jedinica sonde. („TEG“ je skraćenica za Test Element Group, uključujući TFT-ove, kapacitivne elemente, žičane elemente i druge elemente niza.)
Testiranje u procesu jedinica/modula
Kako bi se testirala funkcija panela u procesu ćelije i procesa modula, provedeni su testovi osvjetljenja.
Panel se aktivira i osvijetli kako bi prikazao testni uzorak za provjeru rada panela, tačkastih nedostataka, linijskih nedostataka, hromatizma, hromatske aberacije (neujednačenosti), kontrasta itd.
Postoje dvije metode inspekcije: vizualna inspekcija panela od strane operatera i automatizirana inspekcija panela pomoću CCD kamere koja automatski vrši detekciju nedostataka i testiranje prolaznosti/neuspjeha.
Za inspekciju se koriste testeri ćelija, sonde za ćelije i jedinice sondi.
Test modula također koristi sistem za detekciju i kompenzaciju mure koji automatski detektuje muru ili neravnine na ekranu i eliminiše je kompenzacijom kontrolisanom svjetlošću.
Vrijeme objave: 18. januar 2022.